IGBT雙脈沖測(cè)試方法的意義:
1.對(duì)比不同的IGBT的參數(shù);
2.評(píng)估
IGBT驅(qū)動(dòng)板的功能和性能;
3.獲取IGBT在開(kāi)通、關(guān)斷過(guò)程的主要參數(shù),以評(píng)估Rgon及Rgoff的數(shù)值是否合適。通常我們對(duì)某款I(lǐng)GBT的認(rèn)識(shí)主要是通過(guò)閱讀相應(yīng)的datasheet,但實(shí)際上,數(shù)據(jù)手冊(cè)中所描述的參數(shù)是基于一些已經(jīng)給定的外部參數(shù)測(cè)試得來(lái)的,而實(shí)際應(yīng)用中的外部參數(shù)都是個(gè)性化的,往往會(huì)有所不同,因此這些參數(shù)有些是不能直接拿來(lái)使用的。我們需要了解IGBT在具體應(yīng)用中更真實(shí)的表現(xiàn);
4.開(kāi)通、關(guān)斷過(guò)程是否有不合適的震蕩;
5 評(píng)估二極管的反向恢復(fù)行為和安全裕量;
6.IGBT關(guān)斷時(shí)的電壓尖峰是否合適,關(guān)斷之后是否存在不合適的震蕩;
7.評(píng)估
IGBT并聯(lián)的均流特性;
8.測(cè)量母排的雜散電感;
要觀(guān)測(cè)這些參數(shù),最有效的方法就是:“雙脈沖測(cè)試方法”!文章來(lái)源:http://wwwcb863.com/qd/22.html
雙脈沖測(cè)試平臺(tái)的電路
雙脈沖測(cè)試的基本實(shí)驗(yàn)波形
雙脈沖實(shí)驗(yàn)的基本原理(1):
在t0時(shí)刻,門(mén)極放出第一個(gè)脈沖,被測(cè)IGBT 飽和導(dǎo)通,電動(dòng)勢(shì)U加在負(fù)載L上,電感的電流線(xiàn)性上升,電流表達(dá)式為:
t1時(shí)刻,電感電流的數(shù)值由U和L決定,在U和L都確定時(shí),電流的數(shù)值由t1決定,時(shí)間越長(zhǎng),電流越大。因此可以自主設(shè)定電流的數(shù)值。
雙脈沖實(shí)驗(yàn)的基本原理(2):
IGBT關(guān)斷,負(fù)載 的電流L的電流由上管二極管續(xù)流,該電流緩慢衰減,如圖虛線(xiàn)所示。
由于電流探頭放在下管的發(fā)射極處,因此,在二極管續(xù)流時(shí),IGBT關(guān)斷,示波器上是看不見(jiàn)該電流的。
雙脈沖實(shí)驗(yàn)的基本原理(3):
在t2時(shí)刻,第二個(gè)脈沖的上升沿到達(dá),被測(cè)IGBT 再次導(dǎo)通,續(xù)流二極管進(jìn)入反向恢復(fù),反向恢復(fù)電流會(huì)穿過(guò)IGBT ,在電流探頭上能捕捉到這個(gè)電流,如下圖所示。
在該時(shí)刻,重點(diǎn)是觀(guān)察IGBT 的開(kāi)通過(guò)程。反向恢復(fù)電流是重要的監(jiān)控對(duì)象,該電流的形態(tài)直接影響到換流過(guò)程的許多重要指標(biāo)。
雙脈沖實(shí)驗(yàn)的基本原理(4):
在t3時(shí)刻,被測(cè)IGBT 再次關(guān)斷,此時(shí)電流較大,因?yàn)槟妇(xiàn)雜散電感Ls的存在,會(huì)產(chǎn)生一定的電壓尖峰。在該時(shí)刻,重點(diǎn)是觀(guān)察IGBT 的關(guān)斷過(guò)程。電壓尖峰是重要的監(jiān)控對(duì)象,同時(shí)關(guān)斷之后電壓和電流是否存在不合適的震蕩也是需要注意的對(duì)象。
雙脈沖實(shí)驗(yàn)的實(shí)測(cè)波形:
雙脈沖實(shí)驗(yàn)的關(guān)注點(diǎn)----開(kāi)通過(guò)程(第二次開(kāi)通):
左圖是IGBT 實(shí)測(cè)開(kāi)通波形,我們需要關(guān)注的點(diǎn)是:
(1)Vce電壓是否正確變化;
(2)二極管的反向恢復(fù)電流的di/dt;
(3)二極管的反向恢復(fù)電流的峰值;
(4)反向恢復(fù)后電流是否有震蕩,拖尾有多長(zhǎng);
(5)測(cè)算出損耗( 依賴(lài)示波器功能)。